晶振損壞會有哪些特征(手機晶振損壞現(xiàn)象)

　　如今，我們不能離開沒有手機的日子，而手機依賴于一個比米粒還小的晶振，它決定了整個電路板的"生死"。如果它不能工作，整個系統(tǒng)就會癱瘓，它相當于電路板的心臟。

晶振損壞可分為兩類，一類是徹底停振，二類是具有不穩(wěn)定性。

　　一、徹底停振：

　　如果晶振停止徹底停振，手機可能無法正常打開，就像心臟突然停止跳動一樣，使用晶振作為時鐘信號的電路將停頓。

　　在發(fā)生徹底停振時的解決辦法：

　　當徹底損壞時，可將其拆下并與同類型的集成電路進行比較，以測量每個引腳對地的正向和反向電阻，而且始終可以發(fā)現(xiàn)一個或多個引腳的異常電阻值。

　　二、具有不穩(wěn)定性：

　　不穩(wěn)定的原因很多，這可能是晶振的質(zhì)量問題，更主要的原因是晶振的參數(shù)與電路參數(shù)不匹配。例如系統(tǒng)要求精度20ppm，而晶振參數(shù)只有50ppm，再或者匹配電容要求12PF，而實際電容只有9PF諸多原因。

　　不穩(wěn)定的解決辦法：

　　咨詢專業(yè)晶振供應商，計算正確的電容匹配值以取代晶振，或更換外掛電容。如果更換精度合適的晶振，如果有其他問題，可以用無水酒精冷卻可疑的集成電路，如果故障時間延遲或不再發(fā)生故障，就可以確定。通常只能更換新的集成電路來排除它們。